CIT-3000SMD(B) X熒光分析儀

一、應用領域

有色、黑色冶金、礦山樣品分析，水泥全元素檢測等。

二、性能特點：

?　樣品平臺自動升降，工作十分方便；
? 樣品盤自動旋轉，測量面積更大，并能大限度的消除顆粒誤差和不均勻誤差；
?　抽真空測量，可以更大限度的提高測量元素的檢測限，有利于多金屬測量及其他輕元素測量；
?　先進的模塊化設計理念，保證了儀器后續的高擴展性；
?　采用低功率X光管端窗前直徑更大，對樣品具有更好的激發效率；
?　更先進的硅漂移SDD電制冷半導體探測器，分辨率和計數率更高，有利于要求更高或更復雜的樣品分析。

三、儀器技術指標

（1）測量范圍：1-40keV；
（2）可分析元素范圍：Na-U；
（3）分析含量范圍：1ppm-99.99%；
（4）分辨率：優于130eV；
（5）最低檢出限：Pb≤5ppm；
（6）工作環境溫度：0-40℃；
（7）工作環境相對濕度：≤80%（不結露）
（8）測量時間：10-2550s（時間可調）
（9）輸入電源：AC 220V ±10%，50Hz；
（10）額定功率：300W；
（11）探測器類型：采用高性能電制冷硅漂移SDD探測器；
（12）500萬像素的CCD攝像頭，可有效的實現觀察測試區域狀況，并拍下物料照片，可作為檢測報告的組成部分；
（13）儀器尺寸：600(W)×570(D)×570(H)mm
（14）樣品腔尺寸：樣品腔：300*300*100mm
（15）重量：約100Kg